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半導體/IC測試解決方案
VLSI 測試系統
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產品名稱:
VLSI 測試系統
產品型號:
Model 3360
產品展商:
Chroma
產品文檔:
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簡單介紹
Model 3360 VLSI 測試系統
VLSI 測試系統
的詳細介紹
主要特色:
50 MHz 測試頻率
608 個 I/O 通道
8M (標準) /16M (選購) Pattern 記憶體
彈性化硬體結構 (互換式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
平行測試可達 32 devices
Real Parallel Trim/Match 功能
直接裝設 SC312, TS670 針測卡
測試程式/pattern 轉換器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K, TS670, ND1)
Analog PE card 選配 (16 ~24 bits)
SCAN test 選配 (512M)
ALPG test 選配供記憶體用
STDF 工具支援
人性化 Windows XP 操作環境
CRAFT C/C++ 程式語言
即時pattern編輯器,含Fail pin/address顯示
多樣化的測試解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.
Most Flexible Configuration for Various Devices (Logic, LCD, LED, ADDA, ALPG, SCAN, Power and etc.)
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